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              當前位置:首頁  >  產品中心  >  用于光電測試

              • TS600E-OE 位移探針臺
                TS600E-OE 位移探針臺

                位移探針臺可以在測試準備和測試過程中精確移動探針位置,實現微米級別的電極接觸;同時探針前端可調整角度和長度,從而適應樣品范圍更加廣泛;

                時間:2022-7-21型號:TS600E-OE訪問量:203
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              • TT1000S-OE 正面探針型高溫熱臺
                TT1000S-OE 正面探針型高溫熱臺

                簡介: 采用高溫加熱元件,可以在1000℃下長期穩定使用; 采用高溫陶瓷固定探針臂,保證高溫下探針穩定可靠; 可增加一路溫度信號,用于和其它測試軟件結合; 配套:A2505...

                時間:2022-7-21型號:TT1000S-OE訪問量:118
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              • TS600S-OE 正面探針型冷熱臺
                TS600S-OE 正面探針型冷熱臺

                簡介:適合測試探針需要接觸到樣品正面的情況,測試探針可前后伸縮和自由轉動,因此使用起來靈活方便。根據探針和樣品的接觸狀況,可選擇不同材質和觸點形狀的探針。 配套:A2505(光學...

                時間:2022-7-21型號:TS600S-OE訪問量:163
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              • TS600C-OE 背面探針型冷熱臺
                TS600C-OE 背面探針型冷熱臺

                適合電極在樣品背面的情況,探針可耐受高低溫環境重復使用。上部觀察窗口離樣品距離較遠,不需要進行氣體吹掃來防止窗口表面結露. 提供外部接線盒,用于信號切換,結合外部的濕度控制模塊,...

                時間:2022-7-21型號:TS600C-OE訪問量:100
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